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位图缺陷功能微捷码增强良率管理软件系统Knights YieldManager功能

芯片设计解决方案供应公司微捷码(Magma)设计自动化有限公司日前宣布其为全世界半导体晶圆制造厂商提供的可定制的良率管理软件系统Knights YieldManager引入了新的重大功能增强。这些增强的功能使晶圆厂的良率管理、缺陷分析、测试和产品工程师们得以收集、关联、分析和分享在线计量数据、测试数据及晶圆厂数据。在对该软件系统的位图模式和位图加载器进行了诸多改善之后,YieldManager用户现在可以更加精确、有效地进行电位图失效与在线计量数据、缺陷数据之间的相关性分析,以提高出片良率及缩短产品入市时间。

在YieldManager中引入功能增强的位图模块后,它现在可以提供更加完备的缺陷位图分析。YieldManager收集和存储来自不同的测试装置、对各种参数进行测量后得到的更大量和更加丰富的位图数据集。它拥有一个新的更加强大的图形用户界面,配备了很多新的分析和绘图功能,包括把从多个芯片得到的位图进行堆叠的堆叠密度图,以及按照频率进行彩色编码的行失效与列失效。这些应用和新增加的位图分析功能使得辨识失效位模式,把不重要的缺陷和瑕疵与“致命的”缺陷区分开来,以及查明致命缺陷的原因,从而达到提高出片良率等一系列的工作都更加容易了。

“YieldManager节省工程时间,它通过加速对失效根本原因的分析以及消除在晶圆厂内运行多个客户机-服务器应用软件的必要性,可集中使用资源,” 微捷码公司Fab分析业务部副总裁Ankush Oberai说道。“利用YieldManager新的位图缺陷分析能力,用户可以执行更精确的分析和进一步提高生产力。”
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